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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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英飛思XRF鍍層測厚儀優勢
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域，實現高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統
高計數率硅漂移檢測器可實現高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面，微區膜厚儀EDX-8000T Plus，可以輕松地進行日常測量。
XRF金屬鍍層測厚儀產品特點
>測試快速，無需樣品制備
>可通過內置高清CCD攝像機來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸，污染或破壞被測物
>備有多種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品
>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U鈾
>SDD檢測器，具有高計數范圍和出色的能量分辨率
>可切換準直器和濾光片
XRF金屬鍍層測厚儀應用場景
>EDX8000B鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量，PCB鍍層分析，金屬電鍍鍍層分析；
>測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學生成膜等
>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度
溫馨提示：以上是關于英飛思科學-福建微區膜厚儀EDX-8000T Plus的詳細介紹，產品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產品信息感興趣可以聯系供應商或者讓供應商主動聯系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關的產品！
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第5年
